مقدمه:
روش‌های مختلفی از جمله استفاده از اسید سیتریک، کورت‌های پلاستیکی، دستگاه‌های اولتراسونیک و لیزرها برای دبریدمان سطوح آلوده ایمپلنت پیشنهاد شده‌اند. این مطالعه مقایسه‌ای با هدف ارزیابی و مقایسه تأثیر لیزر Er, Cr:YSGG و اسید سیتریک فوق‌اشباع بر دبریدمان سطوح آلوده ایمپلنت‌های دندانی انجام شد.

مواد و روش‌ها:
در این مطالعه آزمایشگاهی (in vitro)، ۱۲ ایمپلنت ناموفق و آلوده جمع‌آوری و به‌طور تصادفی به دو گروه تقسیم شدند (۶ ایمپلنت در گروه A و ۶ ایمپلنت در گروه B). همچنین یک ایمپلنت به‌عنوان گروه کنترل در نظر گرفته شد. ایمپلنت‌ها به‌صورت افقی به دو بخش کرونال و اپیکال برش داده شدند. در گروه A، بخش کرونال با لیزر Er, Cr:YSGG و بخش اپیکال با اسید سیتریک تیمار شد و در گروه B این روند به‌صورت معکوس انجام گرفت.
برای بررسی اثر اسپری آب در بخش لیزری، نیمی از ناحیه لیزر با استفاده از آب و نیم دیگر بدون آب، به مدت ۱ دقیقه تحت تابش لیزر قرار گرفت.

نتایج:
نتایج نشان داد که حذف جرم (کلکولوس) و پلاک در بخش‌های تحت تابش لیزر (هم با آب و هم بدون آب) در هر دو گروه، به‌طور قابل توجهی بیشتر از بخش‌های تیمار شده با اسید سیتریک بود. همچنین همبستگی معنی‌داری بین میزان حذف جرم و زبری سطح مشاهده شد. علاوه بر این، زبری سطح در بخش‌های تیمار شده با اسید سیتریک به‌طور معنی‌داری بیشتر از بخش‌های لیزری بود. استفاده از اسپری آب در حین تابش لیزر تأثیر بسیار اندکی بر عوامل مورد بررسی داشت.

نتیجه‌گیری:
بر اساس نتایج این مطالعه، لیزر Er, Cr:YSGG در حذف جرم ایمپلنت مؤثرتر بوده و در مقایسه با کاربرد اسید سیتریک، زبری سطح کمتری ایجاد می‌کند.

کلیدواژه‌ها:
اسید سیتریک؛ ایمپلنت آلوده؛ لیزر Er, Cr:YSGG.